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Rasterelektronenmikroskop (REM) Fachrichtung Paläontologie

Das Rasterelektronenmikroskop liefert Mikrofotografien mit bis zu fünftausendfacher Vergrößerung. Die erzeugten Bilder sind Abbildungen der Objektoberflächen und weisen eine hohe Schärfentiefe auf.

Rasterelektronenmikroskop (REM)

Rasterelektronenmikroskop (REM)
Bildquelle: Jan Kersten

Das Rasterelektronenmikroskop liefert Mikrofotografien mit bis zu fünftausendfacher Vergrößerung. Die erzeugten Bilder sind Abbildungen der Objektoberflächen und weisen eine hohe Schärfentiefe auf. Objekte aus der Mikropaläontologie wie Foraminiferen, Ostracoden und Gastropoden werden routinemäßig mit Hilfe dieses Instruments analysiert.

In allen Arbeitsrichtungen der Fachrichtung Paläontologie stellen hochauflösende bildgebende Verfahren eine wesentliche Forschungsbasis. Ein Rasterelektronenmikroskop ist daher ein unabdingbares Element der Grundausstattung. Die zunehmende vergleichende Einbeziehung rezenter Organismen und ihrer ultrastrukturellen Gegebenheiten macht zur Vermeidung von Durchstrahlungen dünner organischer Schichten einerseits und von verfälschenden Leitfähigkeitsbeschichtungen ein Gerät mit geringer Strahlbeschleunigung bei hoher Signal- und Kontrastausbeute erforderlich (Feldemission). Den insbesondere bei cavernösen Objekten kaum vermeidbaren elektrischen Aufladungen kann mit Hilfe des VP-Modus (Variable Pressure) entgegen gewirkt werden.

Modell:

ZEISS SUPRATM 40 VP Ultra mit einer thermischen Feldemissionskathode (mit variabel einstellbarem Druck zur detailreichen topografischen Abbildung von nicht leitenden Proben) und Oxford Instruments EDX-System (Röntgenanalyse) mit INCA-Analysesoftware.

Zubehör:

Sputtergerät (Gold) - Biorad Polar Division

Kontakt

Jan Evers
Raum D.032
Tel.:  +49 (0)30 - 838 70 246
Fax: +49 (0)30 - 838 456 449
email: j.evers@fu-berlin.de