Labore
Labor für Elektronenstrahlmikrosondenanalytik
Haus T – Raum T 033
Tel.: 030 838 70 869
Ansprechpartner: Dr. Moritz Liesegang
Email: m.liesegang@fu-berlin.de
Das Gerät JEOL JXA 8200 Superprobe ist ausgestattet mit
- 5 Kristallspektrometern (WDS) für Elemente ab Kohlenstoff (Z = 6)
- 1 energiedispersiven Röntgendetektor (EDS) für Elemente ab Natrium (Z = 11)
Einsatzgebiete
- Oberflächenmorphologie (Sekundärelektronendetektor)
- Elementkontraste (Rückstreuelektronendetektor)
- Qualitative Analyse (EDS, WDS)
- Quantitative Punktanalyse gegen Standards (WDS)
- Elementverteilungsbilder (WDS)
Labor für Massenspektometrie
Haus B – Raum 009
Tel.: 030 838 70608
Ansprechpartner: Dr. U. Wiechert, Tel. 030 838 70 351
Das Gerät „MAT-253“ ist ausgestattet mit:
- Gasbench II
- Elementaranalysator
- HT-Pyrolyseofen
Einsatzgebiet: Messung von Isotopenverhältnissen
- Karbonate 18O/16O und 13C/12C
- Wasser D/H, 18O/16O, 13C/12C (DIC)
- Bariumsulfat (BaSO4) 34S/32S, 18O/16O
- Silber-I-Sulfid (Ag2S) 34S/32S
- Silbernitrat (AgNO3) 15N/14N, 18O/16O
Ofenlabor
Haus T – Raum T 026
Tel.: 030 838 70 811
Ansprechpartner: Prof. Dr. Timm John, Tel. +49 (0)30 - 838 - 70103
Ausstattung
- 4 Labor – Kammeröfen vom Typ K114 bis 1100 °C der Firma Heraeus – Thermo Science
- 2 HT – Öfen vom Typ HTRV 70-250 bis 1600 °C der Firma Gero
- 1 HT – Ofen vom Typ HT 04/17 bis 1750 °C der Firma Nabertherm
K114 Kammeröfen
Ramanspektrometer Labor
Haus T – Raum T 032
Tel.: 030 838 70 824
Ansprechpartner: Dr. Anselm Loges, Tel. +49 (0)30 - 838 - 66639
Übersicht zur Belegung des Labors: Hier
Ausstattung
Das Raman-Labor ist mit einem mikrokonfokalen Raman-Spektrometer "Horiba ISA Dilor Labram" mit einer Brennweite von 300 mm und einer spektralen Auflösung von bis zu 3,5 cm-1 ausgestattet.
Abhängig vom analysierten Material und der angewandten Methode kann der Benutzer zwischen dem internen 632 nm He-Ne-Laser und einem externen 532 nm Nd-YAG-Laser wählen. Karten und Linescans können mit dem automatisierten x-y-Tisch durchgeführt werden.
Anwendungen
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Phasenidentifizierung von Flüssigkeiten, Mineralien und teilweise Gläsern (Fingerprinting)
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Strukturelle (z.B.: Spannungs-Dehnung, Metamiktisierung) und Orientierungseffekte
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Kohlenstoff-Thermometrie
Labor für “Automated Mineralogy”
Haus T – Raum T 030
Tel: 030 838 70823
Ansprechpartner: Dr. J. C. Vrijmoed
Email: j.c.vrijmoed@fu-berlin.de
Das Gerät Zeiss Sigma 300VP Field-Emission-Rasterelektronenmikroskop ist ausgestattet mit:
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Zeiss Gemini column
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2 Bruker Quantax Xflash 60mm2 SSD EDS Detektoren für quantitative Elementanalyse ab Kohlenstoff
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1 Variable Pressure Secondary Electron (VPSE) detector
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1 High Definition Back Scatter Electron Detector (HDBSE)
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1 Inlens Detektor
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2 Zeiss ATLAS Correlative microscopy system (1 online/1 offline Workstation)
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2 Mineralogic Mining automatisiertes Mineralogiesystem (1 online/1 offline Workstation)
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2 Reservoir Mining für die automatisierte Porenraumanalyse (1 online/1 offline Workstation)
Einsatzgebiete
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Hochortsauflösende automatisierte Oberflächenmorphologie (Zeiss ATLAS)
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Oberflächenmorphologie unbedampfter, unpolierter Proben (Low Vac, Environmental SEM)
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Automatisierte quantitative Mineralogie- und Porösitätsaufnahmen von Dünnschliffen
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Automatisierte Suche nach spezifischen Mineralphasen (Sulfide, Zirkone, etc.)
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Korngröße-, Morphologie- und Mineralogieanalysen
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Kathodolumineszenzanalysen (mit VPSE Detektor)
Das Gerät ZEISS Axio Imager M2m für automatisierte Durchlicht-/Auflicht-Dünnschliffaufnahmen ist ausgestattet mit:
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4 Objektiven 2.5x, 5x, 10x, 20x (spezialisierte Auflichtobjektive)
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Polarisiertes Durchlicht-/ motorisierte Auflicht Reflektoren
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Motorisierter Tisch
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Hochauflösende Digitalkamera
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Zen Blue Suoftware
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Leitungsstarker Rechner für die Bearbeitung von GB-großen Bilddateien
Einsatzgebiete
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Schnelle Dünschliffaufnahmen für die Korrelierung mit REM Bilder und EDS Daten
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Schnelle suche nach Opakphasen wie Sulfiden, Oxiden, etc.
Röntgendiffraktometrielabor
Haus T – Raum T 031
Tel.: 030 838 70 819
Ansprechpartner
Dr. Moritz Liesegang; Mail: m.liesegang@fu-berlin.de
Prof. Dr. Christiane Stephan-Scherb; Tel. 030 838 60 497
Ausstattung
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Panalytical Empyrean Diffraktometer mit 2 Röhrentypen: Cu oder Co
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feste Divergenzspaltoptik mit unterschiedlichen Blenden von 1/16° – 2°
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PIXcel 1 D Detektor. Dabei handelt es sich um einen Halbleiterdetektor, der auf 255x255 Pixeln detektiert, dadurch sind sehr schnelle Messungen möglich. Der Detektor kann in energiediskriminierenden Modus verwendet werden. Dabei wird die Sensitivität für die Cu-Ka Strahlung optimiert und eventuell auftretende Fluoreszenzstrahlung, wie sie bei Fe-haltigen Proben vorkommt, effizient unterdrückt .
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Probenwechsler mit einem 15-er Magazin.