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Rasterelektronenmikroskopielabor

Labor für “Automated Mineralogy”

Haus T – Raum T 030

Tel: 030 838 70823

Ansprechpartner: Dr. J. C. Vrijmoed

Email: j.c.vrijmoed@fu-berlin.de

 

Das Gerät Zeiss Sigma 300VP Field-Emission-Rasterelektronenmikroskop ist ausgestattet mit:

  • Zeiss Gemini column

  • 2 Bruker Quantax Xflash 60mm2 SSD EDS Detektoren für quantitative Element Analyse ab Kohlenstoff

  • 1 Variable Pressure Secondary electron (VPSE) detector

  • 1 High Definition Back Scatter Detector (HDBSE)

  • 1 Inlens Detektor

  • 2 Zeiss ATLAS Correlative microscopy system (1 online/1 offline Workstation)

  • 2 Mineralogic Mining automatisiertes Mineralogiesystem (1 online/1 offline Workstation)

  • 2 Reservoir Mining für die automatisierte Porienraumanalyse (1 online/1 offline Workstation)

 

Einsatzgebiete

  • Hochortsauflösende automatisierte Oberflächenmorphologie (Zeiss ATLAS)

  • Oberflächenmorphologie unbedampfter, unpolierter Proben (Low Vac, Environmental SEM)

  • Automatisierte quantitative Mineralogie- und Porositätsaufnahmen von Dünnschliffen

  • Automatisierte Suche nach spezifischen  Mineralphasen (Sulfiden, Zirkonen,etc.)

  • Korngröße- Morphologie- und Mineralogieanalysen

  • Kathodolumineszenzanalysen (mit VPSE Detektor)

 

Das Gerät ZEISS Axio Imager M2m für automatisierte Durchlicht/Auflicht Dünnschliff aufnahmes ist ausgestattet mit:

  • 4 Objektieven 2.5x, 5x, 10x, 20x (spezialisierte Auflichtobjektive)

  • Polarisiertes Durchlicht / motorisierte Auflicht Reflektoren

  • Motorisierter Tisch

  • Hochauflösende Digitalkamera

  • Zen Blue Suoftware

  • Leitungsstarker Rechner für die Bearbeitung von GB großen Bilddateien

 

Einsatzgebiete

  • Schnelle Dünschliffaufnahmen für die Korrelierung mit REM Bilder und EDS Daten

  • Schnelle suche nach Opakphasen wie Sulfiden, Oxiden, etc.