Scanning electron microscope (SEM)
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Das Rasterelektronenmikroskop liefert Mikrofotografien mit bis zu fünftausendfacher Vergrößerung. Die erzeugten Bilder sind Abbildungen der Objektoberflächen und weisen eine hohe Schärfentiefe auf. Objekte aus der Mikropaläontologie wie Foraminiferen, Ostracoden und Gastropoden werden routinemäßig mit Hilfe dieses Instruments analysiert.
Modell:
ZEISS SUPRATM 40 VP Ultra (mit variabel einstellbarem Druck zur detailreichen topografischen Abbildung von nicht leitenden Proben) und Oxford Instruments EDX-System (Röntgenanalyse) mit INCA-Analysesoftware.
Zubehör:
Sputtergerät (Gold) - Biorad Polar Division
Kontakt
Jan Evers
Raum D.006
Tel.: +49(0)30 838 70246
Fax: +49(0)30 838 70745
email: j.evers@fu-berlin.de